1.荧光光谱的定量分析简介
X实现荧光光谱的定量分析是通过将测得的特征X射线荧光强度转换为浓度实现的，在转换的过程中受四种因素影响。浓度C时四种因子的函数，即：
Ci = Ki*Ii*Mi*Si
其中：i —— 待测元素；
K —— 校正因子，与X射线荧光光谱仪的仪器因子有关，即与X射线光谱仪的X射线管的原级X射线谱分布、入射角、出射角、准直器、色散元件和探测器有关；
I —— 测得的待测元素特征X射线荧光强度；
M —— 基体效应，即元素间吸收增强效应；
S —— 与样品的物理化学状态，如试样均匀性、厚度、表面结构及元素化学态有关。
2.基本参数法原理及特点
（1）基本参数法原理：基本参数法的理论基础是谱线的强度和元素浓度之间的理论关系，也就是说，根据测得的谱线强度和测量条件，就可以计算出待测元素的浓度。具体做法是：将第一次测得的各分析元素的相对强度比归一为1.0，并把它们作为各分析元素的初始含量，然后计算出一组新的相对强度比，重复这个过程直至连续迭代之间的浓度差小于某一预置值。
（2）基本参数法特点：基本参数法从理论上说，是不需要相似标样的，只需要用样品对仪器因子进行校正，这样的样品可以是纯元素样品，也可以是多元样品。过去基本参数法的应用受到限制在于其计算过程复杂，需要准确知道各个物理参数：原级X射线光谱强度分布、质量系数系数、荧光产额、吸收限跃迁因子、谱线分数等等，随着计算机的发展和数据处理方法的提高，这些问题都能得到很好的解决。
3.经验系数法原理及特点
（1）经验系数法原理：依据一组标准样品，根据所给出的组分参考值和测得的强度，使用线性或非线性回归的方法求得影响系数。包括浓度校正模式和强度校正模式两种。
（2）经验系数法特点：忽略根据所给出的组分参考值和测得的强度，使用线性或非线性回归的方法求影响系数这一点，单纯地探索经验系数模式的物理意义并没有太大意义，在很多情况下，它是根据不同的分析对象而建立相应的数学模式。经验系数法的适用性，在很大程度上受标准样品的形态、化学组成及含量范围的限制。因此，有些经验系数法的数学模式在某个领域内，或在某个实验室是有用的，而在另一个领域或地方可能不适用或不能接受了。经验系数法特点还在于当标准样品足够多且选择合适时，可以获得好的分析结果，而样品很少或者选择的不合适时，不能得到很好的结果，甚至会出现过校正现象。
4.经验系数法和基本参数法比较
综上所述，较经验系数法，基本参数法有以下优点：
（1）可用于样品相似的标准样，也可用非相似标准样（如纯金属或熔融物）作为标准样品；
（2）只需要较少的标准样品，从理论上讲，只要一个标准样品（用于计算相对强度）即可；
（3）可对浓度范围变化较大的试样进行分析,外推预测能力理想，体系的依赖性弱，灵活性好；
（4）不会出现参数的过校正现象；
（5）可满足在线分析软件的要求。
